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Refinement of the Si(111)√3 × √3-Ag structure by surface X-ray diffraction
T. Takahashi; S. Nakatani
作者
T. Takahashi; S. Nakatani
卷
第282卷
印刷ISSN
0167-2584
文件大小
135.18KB
发表时间
1993
DOI
10.1016/0167-2584(93)91254-l
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