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Refinement of the Si(111)√3 × √3-Ag structure by surface X-ray diffraction

Refinement of the Si(111)√3 × √3-Ag structure by surface X-ray diffraction

T. Takahashi; S. Nakatani
  • 作者T. Takahashi; S. Nakatani
  • 卷第282卷
  • 印刷ISSN0167-2584
  • 文件大小135.18KB
  • 发表时间1993
  • DOI10.1016/0167-2584(93)91254-l
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