Light Scattering Measurements of Surface Roughness in Molecular Beam Epitaxy Growth of GaAs
Lavoie, C.; Nissen, M. K.; Eisebitt, S.; Johnson, S. R.; Mackenzie, J. A.; Tiedje, T.
- 期刊名称MRS Proceedings
- 作者Lavoie, C.; Nissen, M. K.; Eisebitt, S.; Johnson, S. R.; Mackenzie, J. A.; Tiedje, T.
- 卷第324卷
- 电子ISSN1946-4274
- 文件大小1286.59KB
- 发表时间1993-1
- DOI10.1557/proc-324-119