Comparison of MeV-implanted GaAs and InP
T. Bachmann; S. Schippel; E. Wendler; W. Wesch; U. Richter; W. Witthuhn
- 作者T. Bachmann; S. Schippel; E. Wendler; W. Wesch; U. Richter; W. Witthuhn
- 卷第89卷
- 印刷ISSN0168-583X
- 文件大小500.63KB
- 发表时间1994
- DOI10.1016/0168-583x(94)95166-7
- 页码168-173