发现好书期刊,享受阅读乐趣

海量图书期刊资源,随时随地畅享阅读乐趣

Tapping mode atomic force microscopy in liquid

Tapping mode atomic force microscopy in liquid

Putman, Constant A. J.; Van der Werf, Kees O.; De Grooth, Bart G.; Van Hulst, Niek F.; Greve, Jan
  • 期刊名称Applied Physics Letters
  • 作者Putman, Constant A. J.; Van der Werf, Kees O.; De Grooth, Bart G.; Van Hulst, Niek F.; Greve, Jan
  • 卷第64卷
  • 期第18期
  • 印刷ISSN0003-6951
  • 文件大小727.38KB
  • 发表时间1994
  • DOI10.1063/1.111597
← 返回【学霸图书馆】主页