Tapping mode atomic force microscopy in liquid
Putman, Constant A. J.; Van der Werf, Kees O.; De Grooth, Bart G.; Van Hulst, Niek F.; Greve, Jan
- 期刊名称Applied Physics Letters
- 作者Putman, Constant A. J.; Van der Werf, Kees O.; De Grooth, Bart G.; Van Hulst, Niek F.; Greve, Jan
- 卷第64卷
- 期第18期
- 印刷ISSN0003-6951
- 文件大小727.38KB
- 发表时间1994
- DOI10.1063/1.111597