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Comet — A new method for the deterministic test pattern generation in c-circuits

Comet — A new method for the deterministic test pattern generation in c-circuits

Stavros P Dokouzyannis; John M Kontoleon

作者Stavros P Dokouzyannis; John M Kontoleon
卷第34卷
期第11期
印刷ISSN0026-2714
文件大小586.95KB
发表时间1994
DOI10.1016/0026-2714(94)90130-9
页码1761-1775

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