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Evidence for bistable defects in 6H-SiC

Evidence for bistable defects in 6H-SiC

P. Staikov; D. Baum; J.Y. Lin; H.X. Jiang

作者P. Staikov; D. Baum; J.Y. Lin; H.X. Jiang
卷第89卷
期第12期
印刷ISSN0038-1098
文件大小390.96KB
发表时间1994
DOI10.1016/0038-1098(94)90501-0
页码995-998

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