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GaAs HBT RELIABILITY

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SUGAHARA, HIROHIKO
  • 期刊名称International Journal of High Speed Electronics and Systems
  • 作者SUGAHARA, HIROHIKO
  • 卷第5卷
  • 期第3期
  • 印刷ISSN0129-1564
  • 电子ISSN1793-6438
  • 文件大小652.80KB
  • 发表时间1994-09
  • DOI10.1142/S0129156494000164
  • 页码381-393
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