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Damage Formed by $bf Si^{+}$ Implantation in GaAs

T. Hara; T. Muraki; S. Takeda; N. Uchitomi; Y. Kitaura; G. Gao

作者T. Hara; T. Muraki; S. Takeda; N. Uchitomi; Y. Kitaura; G. Gao
文件大小694.82KB
发表时间1994
DOI10.1143/JJAP.33.L1435

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