The two micron all sky survey

S. G. Kleinmann; M. G. Lysaght; W. L. Pughe; S. E. Schneider; M. F. Skrutskie; M. D. Weinberg; S. D. Price; K. Y. Matthews; B. T. Soifer; J. P. Huchra; C. A. Beichman; T. J. Chester; T. Jarrett; G. L. Kopan; C. J. Lonsdale; J. Elias; J. W. Liebert; P. Seitzer

作者S. G. Kleinmann; M. G. Lysaght; W. L. Pughe; S. E. Schneider; M. F. Skrutskie; M. D. Weinberg; S. D. Price; K. Y. Matthews; B. T. Soifer; J. P. Huchra; C. A. Beichman; T. J. Chester; T. Jarrett; G. L. Kopan; C. J. Lonsdale; J. Elias; J. W. Liebert; P. Seitzer
卷第3卷
印刷ISSN0922-6435
电子ISSN1572-9508
文件大小440.66KB
发表时间1994
DOI10.1007/bf00430119
页码65-72

发现好书期刊，享受阅读乐趣

The two micron all sky survey