Transmission electron microscopy study of the formation of a contamination layer on the surface of porous silicon

• 作者J. Katcki; M. Bugajski
• 卷第5卷
• 期第5期
• 印刷ISSN0957-4522
• 电子ISSN1573-482X
• 文件大小882.63KB
• 发表时间1994-10
• DOI10.1007/bf00921252
• 页码280-283