The Two Micron All Sky Survey

S. G. Kleinmann; M. G. Lysaght; W. L. Pughe; S. E. Schneider; M. F. Skrutskie; M. D. Weinberg; S. D. Price; K. Matthews; B. T. Soifer; J. P. Huchra; C. A. Beichman; T. J. Chester; T. Jarrett; G. L. Kopan; C. J. Lonsdale; J. Elias; J. W. Liebert; P. Seitzer

作者S. G. Kleinmann; M. G. Lysaght; W. L. Pughe; S. E. Schneider; M. F. Skrutskie; M. D. Weinberg; S. D. Price; K. Matthews; B. T. Soifer; J. P. Huchra; C. A. Beichman; T. J. Chester; T. Jarrett; G. L. Kopan; C. J. Lonsdale; J. Elias; J. W. Liebert; P. Seitzer
卷第217卷
印刷ISSN0004-640X
电子ISSN1572-946X
文件大小546.71KB
发表时间1994-07
DOI10.1007/bf00990014
页码11-17

发现好书期刊，享受阅读乐趣

The Two Micron All Sky Survey