Structural investigation of YBCO films and bicrystal grain boundary junctions

• 作者A. Del Vecchio; C. Camerlingo; F. De Riccardis; H. Huang; B. Ruggiero; M. Russo; E. Sarnelli; M. A. Tagliente; L. Tapfer; G. Testa
• 卷第16卷
• 期第12期
• 印刷ISSN0392-6737
• 电子ISSN1826-9893
• 文件大小1725.16KB
• 发表时间1994-12
• DOI10.1007/bf02471862
• 页码2025-2030