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An on-wafer method for C-V characterization of heterostructure diodes

An on-wafer method for C-V characterization of heterostructure diodes

Jan Stake; Hans Grönqvist

作者Jan Stake; Hans Grönqvist
卷第9卷
期第2期
印刷ISSN0895-2477
电子ISSN1098-2760
文件大小441.18KB
发表时间1995
DOI10.1002/mop.4650090202
页码63-66

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