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High resolution method for the analysis of admittance spectroscopy data

High resolution method for the analysis of admittance spectroscopy data

Maier, D.; Hug, P.; Fiederle, M.; Eiche, C.; Ebling, D.; Weese, J.

作者Maier, D.; Hug, P.; Fiederle, M.; Eiche, C.; Ebling, D.; Weese, J.
卷第77卷
期第8期
印刷ISSN0021-8979
文件大小1009.01KB
发表时间1995
DOI10.1063/1.358562

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