Theoretical investigations on electron trap generation by fluorine atoms in SiO2 film
Yokozawa, A.; Hirose, K.; Ishitani, A.; Kamoshida, M.; Hillenius, S.; Gilmer, G.; Raghavachari, K.
- 期刊名称Journal of Applied Physics
- 作者Yokozawa, A.; Hirose, K.; Ishitani, A.; Kamoshida, M.; Hillenius, S.; Gilmer, G.; Raghavachari, K.
- 卷第77卷
- 期第12期
- 印刷ISSN0021-8979
- 文件大小953.96KB
- 发表时间1995
- DOI10.1063/1.359105