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Size effects in submicron NiFe/Ag GMR devices

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Russek, S.E.; Cross, R.W.; Sanders, S.C.; Oti, J.O.

期刊名称IEEE Transactions on Magnetics
作者Russek, S.E.; Cross, R.W.; Sanders, S.C.; Oti, J.O.
卷第31卷
期第6期
印刷ISSN0018-9464
文件大小416.04KB
发表时间1995
DOI10.1109/20.489823
页码3939-3942

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