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Native Point Defect Densities and Dark Line Defects in ZnSe

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Berding, M. A.; Sher, A.; Schilfgaarde, M. Van

期刊名称MRS Proceedings
作者Berding, M. A.; Sher, A.; Schilfgaarde, M. Van
卷第408卷
电子ISSN1946-4274
文件大小336.58KB
发表时间1995-1
DOI10.1557/proc-408-503

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