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Reverse bias currents in amorphous silicon nip sensors

Reverse bias currents in amorphous silicon nip sensors

E.A. Schiff; R.A. Street; R.L. Weisfield
  • 作者E.A. Schiff; R.A. Street; R.L. Weisfield
  • 印刷ISSN0022-3093
  • 文件大小289.49KB
  • 发表时间1996
  • DOI10.1016/0022-3093(96)00103-2
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