IBM experiments in soft fails in computer electronics (1978–1994)

Ziegler, J. F.; Curtis, H. W.; Muhlfeld, H. P.; Montrose, C. J.; Chin, B.; Nicewicz, M.; Russell, C. A.; Wang, W. Y.; Freeman, L. B.; Hosier, P.; LaFave, L. E.; Walsh, J. L.; Orro, J. M.; Unger, G. J.; Ross, J. M.; O'Gorman, T. J.; Messina, B.; Sullivan, T. D.; Sykes, A. J.; Yourke, H.; Enger, T. A.; Tolat, V.; Scott, T. S.; Taber, A. H.; Sussman, R. J.; Klein, W. A.; Wahaus, C. W.

作者Ziegler, J. F.; Curtis, H. W.; Muhlfeld, H. P.; Montrose, C. J.; Chin, B.; Nicewicz, M.; Russell, C. A.; Wang, W. Y.; Freeman, L. B.; Hosier, P.; LaFave, L. E.; Walsh, J. L.; Orro, J. M.; Unger, G. J.; Ross, J. M.; O'Gorman, T. J.; Messina, B.; Sullivan, T. D.; Sykes, A. J.; Yourke, H.; Enger, T. A.; Tolat, V.; Scott, T. S.; Taber, A. H.; Sussman, R. J.; Klein, W. A.; Wahaus, C. W.
卷第40卷
期第1期
文件大小1412.57KB
发表时间1996
DOI10.1147/rd.401.0003
页码3-18

发现好书期刊，享受阅读乐趣

IBM experiments in soft fails in computer electronics (1978–1994)