<![CDATA[Field testing for cosmic ray soft errors in semiconductor memories]]>.PDF下载

O'Gorman, T. J.; Ross, J. M.; Taber, A. H.; Ziegler, J. F.; Muhlfeld, H. P.; Montrose, C. J.; Curtis, H. W.; Walsh, J. L.

作者O'Gorman, T. J.; Ross, J. M.; Taber, A. H.; Ziegler, J. F.; Muhlfeld, H. P.; Montrose, C. J.; Curtis, H. W.; Walsh, J. L.
卷第40卷
期第1期
文件大小1054.80KB
发表时间1996
DOI10.1147/rd.401.0041
页码41-50

发现好书期刊，享受阅读乐趣