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Soft X-Ray Emission Studies of the Electronic Structure in Silicon Nanoclusters

Van Buuren, T.; Dinh, L. N.; Chase, L. L.; Siekhaus, W. J.; Jimenez, I.; Terminello, L. J.; Grush, M.; Callcott, T. A.; Carlisle, J. A.

期刊名称MRS Proceedings
作者Van Buuren, T.; Dinh, L. N.; Chase, L. L.; Siekhaus, W. J.; Jimenez, I.; Terminello, L. J.; Grush, M.; Callcott, T. A.; Carlisle, J. A.
卷第452卷
电子ISSN1946-4274
文件大小408.11KB
发表时间1996-1
DOI10.1557/proc-452-171