Determination of Biaxial Residual Stresses by a Holographic-Hole Drilling Technique
- 期刊名称Journal of Engineering Materials and Technology
- 作者Makino, A.; Nelson, D. V.; Fuchs, E. A.; Williams, D. R.
- 卷第118卷
- 期第4期
- 印刷ISSN0094-4289
- 文件大小864.92KB
- 发表时间1996
- DOI10.1115/1.2805960
[IEEE 2019 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) - San Francisco, CA, USA (2019.12.7-2019.12.11)] 2019 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) - 5nm CMOS Production Technology Platform featuring full-fledged EUV, and High Mobility Channel FinFETs with densest 0.021µm <sup>2</sup> SRAM cells for Mobile SoC and High Performance Computing ApplicationsYeap, Geoffrey; Chen, X.; Yang, B. R.; Lin, C. P.; Yang, F. C.; Leung, Y. K.; Lin, D. W.; Chen, C. P.; Yu, K. F.; Chen, D. H.; Chang, C. Y.; Lin, S. S.; Chen, H. K.; Hung, P.; Hou, C. S.; Cheng, Y. K.; Chang, J.; Yuan, L.; Lin, C. K.; Chen, C. C.; Yeo, Y. C.; Tsai, M. H.; Chen, Y. M.; Lin, H. T.; Chui, C. O.; Huang, K. B.; Chang, W.; Lin, H. J.; Chen, K. W.; Chen, R.; Sun, S. H.; Fu, Q.; Yang, H. T.; Shang, H. L.; Chiang, H. T.; Yeh, C. C.; Lee, T. L.; Wang, C. H.; Shue, S. L.; Wu, C. W.; Lu, R.; Lin, W. R.; Wu, J.; Lai, F.; Wang, P. W.; Wu, Y. H.; Tien, B. Z.; Huang, Y. C.; Lu, L. C.; He, Jun; Ku, Y.; Lin, J.; Cao, M.; Chang, T. S.; Jang, S. M.; Lin, H. C.; Peng, Y. C.; Sheu, J. Y.; Wang, M. · 2019
thin filmsCheng, T. Y.; Lin, C. W.; Chang, L.; Hsu, C. H.; Lee, J. M.; Chen, J. M.; Lin, J.-Y.; Wu, K. H.; Uen, T. M.; Gou, Y. S.; Juang, J. Y. · Physical Review B · 2006
Electro-optic narrowband multi-wavelength filter in aperiodically poled lithium niobateLin, C. H.; Chen, Y. H.; Lin, S. W.; Chang, C. L.; Huang, Y. C.; Chang, J. Y. · oe/15/15/oe-15-15-9859.pdf · 2007
Waveguide based energy transfer with gold nanoclusters for detection of hydrogen peroxideLin, T. N.; Chang, Y. L.; Shu, G. W.; Yuan, C. T.; Shen, J. L.; Chiu, C. H.; Kuo, H. C.; Lin, C. A. J.; Chang, W. H.; Wang, H. H.; Su, C. H.; Yeh, H. I. · RSC Advances · 2014
[IEEE 2013 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) - Washington, DC, USA (2013.12.9-2013.12.11)] 2013 IEEE International Electron Devices Meeting - A 16nm FinFET CMOS technology for mobile SoC and computing applicationsWu, Shien-Yang; Lin, C. Y.; Chiang, M. C.; Liaw, J. J.; Cheng, J. Y.; Yang, S. H.; Liang, M.; Miyashita, T.; Tsai, C. H.; Hsu, B. C.; Chen, H. Y.; Yamamoto, T.; Chang, S. Y.; Chang, V. S.; Chang, C. H.; Chen, J. H.; Chen, H. F.; Ting, K. C.; Wu, Y. K.; Pan, K. H.; Tsui, R. F.; Yao, C. H.; Chang, P. R.; Lien, H. M.; Lee, T. L.; Lee, H. M.; Chang, W.; Chang, T.; Chen, R.; Yeh, M.; Chen, C. C.; Chiu, Y. H.; Chen, Y. H.; Huang, H. C.; Lu, Y. C; Chang, C. W.; Tsai, M. H.; Liu, C. C.; Chen, K. S.; Kuo, C. C.; Lin, H. T.; Jang, S. M.; Ku, Y. · 2013
Performance of the TPS Pulsed MagnetsChu, Y. L.; Yang, C. S.; Lin, F. Y.; Fann, C. S.; Chen, C. L.; Kou, C. Y.; Jan, J. C.; Chang, C. H.; Hwang, C. S.; Chen, C. T. · IEEE Transactions on Plasma Science · 2015
Improved measurement of the reactor antineutrino flux at Daya BayAdey, D.; An, F. P.; Balantekin, A. B.; Band, H. R.; Bishai, M.; Blyth, S.; Cao, D.; Cao, G. F.; Cao, J.; Chan, Y. L.; Chang, J. F.; Chang, Y.; Chen, H. S.; Chen, S. M.; Chen, Y.; Chen, Y. X.; Cheng, J.; Cheng, Z. K.; Cherwinka, J. J.; Chu, M. C.; Chukanov, A.; Cummings, J. P.; Deng, F. S.; Ding, Y. Y.; Diwan, M. V.; Dolgareva, M.; Dove, J.; Dwyer, D. A.; Edwards, W. R.; Gonchar, M.; Gong, G. H.; Gong, H.; Gu, W. Q.; Guo, L.; Guo, X. H.; Guo, Y. H.; Guo, Z.; Hackenburg, R. W.; Hans, S.; He, M.; Heeger, K. M.; Heng, Y. K.; Higuera, A.; Hsiung, Y. B.; Hu, B. Z.; Hu, T.; Hu, Z. J.; Huang, H. X.; Huang, X. T.; Huang, Y. B.; Huber, P.; Huo, W.; Hussain, G.; Jaffe, D. E.; Jen, K. L.; Ji, X. L.; Ji, X. P.; Johnson, R. A.; Jones, D.; Kang, L.; Kettell, S. H.; Koerner, L. W.; Kohn, S.; Kramer, M.; Langford, T. J.; Lebanowski, L.; Lee, J.; Lee, J. H. C.; Lei, R. T.; Leitner, R.; Leung, J. K. C.; Li, C.; Li, F.; Li, H. L.; Li, Q. J.; Li, S.; Li, S. C.; Li, S. J.; Li, W. D.; Li, X. N.; Li, X. Q.; Li, Y. F.; Li, Z. B.; Liang, H.; Lin, C. J.; Lin, G. L.; Lin, S.; Lin, S. K.; Lin, Y.-C.; Ling, J. J.; Link, J. M.; Littenberg, L.; Littlejohn, B. R.; Liu, J. C.; Liu, J. L.; Liu, Y.; Liu, Y. H.; Loh, C. W.; Lu, C.; Lu, H. Q.; Lu, J. S.; Luk, K. B.; Ma, X. B.; Ma, X. Y.; Ma, Y. Q.; Malyshkin, Y.; Marshall, C.; Martinez Caicedo, D. A.; McDonald, K. T.; McKeown, R. D.; Mitchell, I.; Mora Lepin, L.; Napolitano, J.; Naumov, D.; Naumova, E.; Ochoa-Ricoux, J. P.; Olshevskiy, A.; Pan, H.-R.; Park, J.; Patton, S.; Pec, V.; Peng, J. C.; Pinsky, L.; Pun, C. S. J.; Qi, F. Z.; Qi, M.; Qian, X.; Qiu, R. M.; Raper, N.; Ren, J.; Rosero, R.; Roskovec, B.; Ruan, X. C.; Steiner, H.; Sun, J. L.; Treskov, K.; Tse, W.-H.; Tull, C. E.; Viren, B.; Vorobel, V.; Wang, C. H.; Wang, J.; Wang, M.; Wang, N. Y.; Wang, R. G.; Wang, W.; Wang, W.; Wang, X.; Wang, Y. F.; Wang, Z.; Wang, Z.; Wang, Z. M.; Wei, H. Y.; Wei, L. H.; Wen, L. J.; Whisnant, K.; White, C. G.; Wise, T.; Wong, H. L. H.; Wong, S. C. F.; Worcester, · Physical Review D · 2019
Cosmogenic neutron production at Daya BayAn, F. P.; Balantekin, A. B.; Band, H. R.; Bishai, M.; Blyth, S.; Cao, D.; Cao, G. F.; Cao, J.; Chan, Y. L.; Chang, J. F.; Chang, Y.; Chen, H. S.; Chen, S. M.; Chen, Y.; Chen, Y. X.; Cheng, J.; Cheng, Z. K.; Cherwinka, J. J.; Chu, M. C.; Chukanov, A.; Cummings, J. P.; Ding, Y. Y.; Diwan, M. V.; Dolgareva, M.; Dove, J.; Dwyer, D. A.; Edwards, W. R.; Gill, R.; Gonchar, M.; Gong, G. H.; Gong, H.; Grassi, M.; Gu, W. Q.; Guo, L.; Guo, X. H.; Guo, Y. H.; Guo, Z.; Hackenburg, R. W.; Hans, S.; He, M.; Heeger, K. M.; Heng, Y. K.; Higuera, A.; Hsiung, Y. B.; Hu, B. Z.; Hu, T.; Huang, H. X.; Huang, X. T.; Huang, Y. B.; Huber, P.; Huo, W.; Hussain, G.; Jaffe, D. E.; Jen, K. L.; Ji, X. L.; Ji, X. P.; Jiao, J. B.; Johnson, R. A.; Jones, D.; Kang, L.; Kettell, S. H.; Khan, A.; Koerner, L. W.; Kohn, S.; Kramer, M.; Kwok, M. W.; Langford, T. J.; Lau, K.; Lebanowski, L.; Lee, J.; Lee, J. H. C.; Lei, R. T.; Leitner, R.; Leung, J. K. C.; Li, C.; Li, D. J.; Li, F.; Li, G. S.; Li, Q. J.; Li, S.; Li, S. C.; Li, W. D.; Li, X. N.; Li, X. Q.; Li, Y. F.; Li, Z. B.; Liang, H.; Lin, C. J.; Lin, G. L.; Lin, S.; Lin, S. K.; Lin, Y.-C.; Ling, J. J.; Link, J. M.; Littenberg, L.; Littlejohn, B. R.; Liu, J. C.; Liu, J. L.; Loh, C. W.; Lu, C.; Lu, H. Q.; Lu, J. S.; Luk, K. B.; Ma, X. B.; Ma, X. Y.; Ma, Y. Q.; Malyshkin, Y.; Martinez Caicedo, D. A.; McDonald, K. T.; McKeown, R. D.; Mitchell, I.; Nakajima, Y.; Napolitano, J.; Naumov, D.; Naumova, E.; Ochoa-Ricoux, J. P.; Olshevskiy, A.; Pan, H.-R.; Park, J.; Patton, S.; Pec, V.; Peng, J. C.; Pinsky, L.; Pun, C. S. J.; Qi, F. Z.; Qi, M.; Qian, X.; Qiu, R. M.; Raper, N.; Ren, J.; Rosero, R.; Roskovec, B.; Ruan, X. C.; Steiner, H.; Sun, J. L.; Tang, W.; Taychenachev, D.; Treskov, K.; Tsang, K. V.; Tse, W.-H.; Tull, C. E.; Viaux, N.; Viren, B.; Vorobel, V.; Wang, C. H.; Wang, M.; Wang, N. Y.; Wang, R. G.; Wang, W.; Wang, X.; Wang, Y. F.; Wang, Z.; Wang, Z.; Wang, Z. M.; Wei, H. Y.; Wen, L. J.; Whisnant, K.; White, C. G.; Wise, T.; Wong, H. L. H.; Wong, S. · Physical Review D · 2018