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Defect Structures Determined by EXAFS

Defect Structures Determined by EXAFS

K. Akimoto; T. Kobayashi; T. Ogawa; W. Ohtuka; T. Maruyama; Y. Kitajima

作者K. Akimoto; T. Kobayashi; T. Ogawa; W. Ohtuka; T. Maruyama; Y. Kitajima
卷第202卷
期第2期
印刷ISSN0370-1972
电子ISSN1521-3951
文件大小260.57KB
发表时间1997
DOI10.1002/1521-3951(199708)202:2<717::aid-pssb717>3.0.co;2-g
页码717-724

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