学霸图书馆
首页
下载客户端
登录
游客
会员中心
修改密码
VIP升级
退出登录
发现好书期刊,享受阅读乐趣
海量图书期刊资源,随时随地畅享阅读乐趣
全部
期刊
图书
搜索
A Heuristic Measure to Maximize Detected Faults per Test
Kim T. Le; Kewal K. Saluja
作者
Kim T. Le; Kewal K. Saluja
卷
第13卷
期
第1期
印刷ISSN
0923-8174
电子ISSN
1573-0727
文件大小
45.46KB
发表时间
1998-08
DOI
10.1023/a:1008389217344
页码
57-60
← 返回【学霸图书馆】主页