Secondary ion mass spectrometry round-robin study of relative sensitivity factors in gallium arsenide
- 期刊名称Surface and Interface Analysis
- 作者Homma, Y.; Tohjou, F.; Masamoto, A.; Shibata, M.; Shichi, H.; Yoshioka, Y.; Adachi, T.; Akai, T.; Gao, Y.; Hirano, M.; Hirano, T.; Ihara, A.; Kamejima, T.; Koyama, H.; Maier, M.; Matsumoto, S.; Matsunaga, H.; Nakamura, T.; Obata, T.; Okuno, K.; Sadayama, S.; Sasa, K.; Sasakawa, K.; Shimanuki, Y.; Suzuki, S.; Sykes, D. E.; Tachikawa, I.; Takase, H.; Tanigaki, T.; Tomita, M.; Tosho, H.; Kurosawa, S.
- 卷第26卷
- 期第2期
- 印刷ISSN0142-2421
- 电子ISSN1096-9918
- 文件大小330.22KB
- 发表时间1998-02
- DOI10.1002/(sici)1096-9918(199802)26:2<144::aid-sia351>3.0.co;2-l
- 页码144-154
Summary of ISO/TC 201 standards: introductionPowell, C. J.; Shimizu, R. · Surface and Interface Analysis · 1999
RARE TUMORSKiyotani, C.; Uno, T.; Ogiwara, H.; Morota, N.; Nakazawa, A.; Tsutsumi, Y.; Masaki, H.; Mori, T.; Sanz, J. A. S.; Guibelalde, M.; Tavera, A.; Herandez, I.; Ibanez, J.; Brell, M.; Mas, A.; Muller, H. L.; Gebhardt, U.; Warmuth-Metz, M.; Pietsch, T.; Sorensen, N.; Kortmann, R.-D.; Stapleton, S.; Gonzalez, I.; Steinbrueck, S.; Rodriguez, L.; Tuite, G.; Krzyzankova, M.; Mertsch, S.; Jeibmann, A.; Kordes, U.; Wolff, J.; Paulus, W.; Hasselblatt, M.; Nonaka, Y.; Hara, S.; Fukazawa, S.; Shimizu, K.; Ben-Arush, M.; Postovsky, S.; Toledano, H.; Peretz-Nahum, M.; Fujimura, J.; Sakaguchi, S.; Kondo, A.; Saito, Y.; Shimoji, K.; Ohara, Y.; Arakawa, A.; Saito, M.; Shimizu, T.; Benesch, M.; von Bueren, A. O.; Dantonello, T.; von Hoff, K.; Pietsch, T.; Leuschner, I.; Claviez, A.; Bierbach, U.; Kropshofer, G.; Korinthenberg, R.; Graf, N.; Suttorp, M.; Kortmann, R. D.; Friedrich, C.; Klingebiel, T.; Koscielniak, E.; Rutkowski, S.; Mesa, M.; Sanchez, M.; Mejia, J.; Pena, G.; Dussan, R.; Cabeza, M.; Storino, A.; Dincer, F.; Roffidal, T.; Powell, M.; Berrak, S.; Wolff, J. E.; Fouyssac, F.; Delaunay, C.; Vignaud, J.-M.; Schmitt, E.; Klein, O.; Mansuy, L.; Chastagner, P.; Cruz, O.; Guillen, A.; Garcia, G.; Alamar, M.; Candela, S.; Roussos, I.; Garzon, M.; Sunol, M.; Muchart, J.; Rebollo, M.; Mora, J.; Wolff, J.; Diez, B.; Muggeri, A.; Arakaki, N.; Meli, F.; Sevlever, G.; Tsitouras, V.; Pettorini, B.; Fellows, G.; Blair, J.; Didi, M.; Daousi, C.; Steele, C.; Javadpour, M.; Sinha, A.; Hishii, M.; Kondo, A.; Fujimura, J.; Sakaguchi, S.; Ishii, H.; Shimoji, K.; Miyajima, M.; Arai, H.; Dvir, R.; Sayar, D.; Levin, D.; Ben-Sirah, L.; Constantini, S.; Elhasid, R.; Gertsch, E.; Foreman, N.; Valera, E. T.; Brassesco, M. S.; Machado, H. R.; Oliveira, R. S.; Santos, A. C.; Terra, V. C.; Barros, M. V.; Scrideli, C. A.; Tone, L. G.; Merino, D.; Pienkowska, M.; Shlien, A.; Tabori, U.; Gilbertson, R.; Malkin, D.; Jeeva, I.; Chang, B.; Long, V.; Picton, S.; Burton, D.; Clark, S.; Kwok, C.; Mokete, B.; Rafi · Neuro-Oncology · 2012
Extraction of the Landau-Migdal Parameter from the Gamow-Teller Giant Resonance inYasuda, J.; Sasano, M.; Zegers, R. G. T.; Baba, H.; Bazin, D.; Chao, W.; Dozono, M.; Fukuda, N.; Inabe, N.; Isobe, T.; Jhang, G.; Kameda, D.; Kaneko, M.; Kisamori, K.; Kobayashi, M.; Kobayashi, N.; Kobayashi, T.; Koyama, S.; Kondo, Y.; Krasznahorkay, A. J.; Kubo, T.; Kubota, Y.; Kurata-Nishimura, M.; Lee, C. S.; Lee, J. W.; Matsuda, Y.; Milman, E.; Michimasa, S.; Motobayashi, T.; Muecher, D.; Murakami, T.; Nakamura, T.; Nakatsuka, N.; Ota, S.; Otsu, H.; Panin, V.; Powell, W.; Reichert, S.; Sakaguchi, S.; Sakai, H.; Sako, M.; Sato, H.; Shimizu, Y.; Shikata, M.; Shimoura, S.; Stuhl, L.; Sumikama, T.; Suzuki, H.; Tangwancharoen, S.; Takaki, M.; Takeda, H.; Tako, T.; Togano, Y.; Tokieda, H.; Tsubota, J.; Uesaka, T.; Wakasa, T.; Yako, K.; Yoneda, K.; Zenihiro, J. · Physical Review Letters · 2018
PrefaceGRANT, JOHN T. · Surface and Interface Analysis · 1997
PrefaceFriedbacher, Gernot; Fuchs, Harold; G�untherodt, Hans-Joachim · Surface and Interface Analysis · 1997
PrefaceMarkwitz, A.; Matz, W.; Waldschmidt, M.; Demortier, G. · Surface and Interface Analysis · 1998
Overlayer corrections in XPSZalm, P. C. · Surface and Interface Analysis · 1998
EditorialBriggs (Editor-in-Chief), David · Surface and Interface Analysis · 1998
PrefaceVanden Eynde, X.; Bertrand, P. · Surface and Interface Analysis · 1999
PrefaceBennewitz, R.; Meyer, E. · Surface and Interface Analysis · 1999
EditorialBriggs, David · Surface and Interface Analysis · 1999