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Quantitative wear analysis using atomic force microscopy

Quantitative wear analysis using atomic force microscopy

J. Schöfer; E. Santner

作者J. Schöfer; E. Santner
卷第222卷
期第2期
印刷ISSN0043-1648
文件大小7403.81KB
发表时间1998
DOI10.1016/s0043-1648(98)00303-2
页码74-83

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