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AIP Conference Proceedings [AIP The eighth beam instrumentation workshop - Stanford, California (USA) (4-7 May 1998)] - Wire breakage in SLC wire profile monitors

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Field, C.; McCormick, D.; Raimondi, P.; Ross, M.
  • 作者Field, C.; McCormick, D.; Raimondi, P.; Ross, M.
  • 印刷ISSN0094-243X
  • 文件大小520.97KB
  • 发表时间1998
  • DOI10.1063/1.57029
  • 页码440-445
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