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Efficiency of Hot Carrier Trapping by Outer-Sphere Redox Probes at Quantum Dot Interfaces

Efficiency of Hot Carrier Trapping by Outer-Sphere Redox Probes at Quantum Dot Interfaces

Grela, M. A.; Brusa, M. A.; Colussi, A. J.

期刊名称The Journal of Physical Chemistry B
作者Grela, M. A.; Brusa, M. A.; Colussi, A. J.
卷第103卷
期第31期
印刷ISSN1520-6106
电子ISSN1520-5207
文件大小40.52KB
发表时间1999-08
DOI10.1021/jp990952v
页码6400-6402

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