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Analyses of small facets imaged with scanning-probe microscopy

Analyses of small facets imaged with scanning-probe microscopy

Hegeman, J. B. J. W.; Kooi, B. J.; Groen, H. B.; De Hosson, J. Th. M.
  • 期刊名称Journal of Applied Physics
  • 作者Hegeman, J. B. J. W.; Kooi, B. J.; Groen, H. B.; De Hosson, J. Th. M.
  • 卷第86卷
  • 期第7期
  • 印刷ISSN0021-8979
  • 文件大小779.42KB
  • 发表时间1999
  • DOI10.1063/1.371275
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