Fundamental issues in wafer bonding
U. Gösele; Y. Bluhm; G. Kästner; P. Kopperschmidt; G. Kräuter; R. Scholz; A. Schumacher; S. Senz; Q. Tong; L. Huang; Y. Chao; T. H. Lee
- 作者U. Gösele; Y. Bluhm; G. Kästner; P. Kopperschmidt; G. Kräuter; R. Scholz; A. Schumacher; S. Senz; Q. Tong; L. Huang; Y. Chao; T. H. Lee
- 文件大小1290.27KB
- 发表时间1999
- DOI10.1116/1.581788