Non-destructive characterisation of defects in devices using infrared thermography

• 作者A. Kaminski; J. Jouglar; C. Volle; S. Natalizio; P.L. Vuillermoz; A. Laugier
• 卷第30卷
• 期第11期
• 印刷ISSN0026-2692
• 文件大小699.16KB
• 发表时间1999
• DOI10.1016/s0026-2692(99)00076-2
• 页码1137-1140