A Bayesian Semiparametric Accelerated Failure Time Model

• 期刊名称Biometrics
• 作者Stephen Walker and Bani K. Mallick
• 卷第55卷
• 期第2期
• 印刷ISSN0006-341X
• 电子ISSN1541-0420
• 文件大小1126.68KB
• 发表时间1999-06
• DOI10.2307/2533795
• 页码477-483