Application of linearly independent arithmetic transform in testing of digital circuits
- 期刊名称Electronics Letters
- 作者Rahardja, S.; Falkowski, B.J.
- 卷第35卷
- 期第5期
- 印刷ISSN0013-5194
- 文件大小280.68KB
- 发表时间1999
- DOI10.1049/el:19990280
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