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Static Test Compaction for Scan-Based Designs to Reduce Test Application Time

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Irith Pomeranz; Sudhakar M. Reddy
  • 作者Irith Pomeranz; Sudhakar M. Reddy
  • 卷第16卷
  • 期第5期
  • 印刷ISSN0923-8174
  • 电子ISSN1573-0727
  • 文件大小71.92KB
  • 发表时间2000-10
  • DOI10.1023/a:1008385125818
  • 页码541-552
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