Effect of Flow-Tube Geometry on Solar Wind PropertiesY. Chen; Y.Q. Hu · 2002

Two energy release processes for CMEs: MHD catastrophe and magnetic reconnectionY. Chen; Y.Q. Hu; L.D. Xia · 2007

Partial wave analysis of J/ψ→γ(ηπ+π−)J.Z. Bai; Y. Ban; J.G. Bian; G.P. Chen; H.F. Chen; J.C. Chen; Y. Chen; Y.B. Chen; Y.Q. Chen; B.S. Cheng; X.Z. Cui; H.L. Ding; L.Y. Dong; Z.Z. Du; C.S. Gao; M.L. Gao; S.Q. Gao; J.H. Gu; S.D. Gu; W.X. Gu; Y.F. Gu; Y.N. Guo; S.W. Han; Y. Han; J. He; J.T. He; K.L. He; M. He; G.Y. Hu; H.M. Hu; J.L. Hu; Q.H. Hu; T. Hu; X.Q. Hu; Y.Z. Huang; C.H. Jiang; Y. Jin; Z.J. Ke; Y.F. Lai; P.F. Lang; C.G. Li; D. Li; H.B. Li; J. Li; P.Q. Li; R.B. Li; W. Li; W.G. Li; X.H. Li; X.N. Li; H.M. Liu; J. Liu; R.G. Liu; Y. Liu; F. Lu; J.G. Lu; X.L. Luo; E.C. Ma; J.M. Ma; H.S. Mao; Z.P. Mao; X.C. Meng; J. Nie; N.D. Qi; X.R. Qi; C.D. Qian; J.F. Qiu; Y.H. Qu; Y.K. Que; G. Rong; Y.Y. Shao; B.W. Shen; D.L. Shen; H. Shen; X.Y. Shen; H.Y. Sheng; H.Z. Shi; X.F. Song; F. Sun; H.S. Sun; Y. Sun; Y.Z. Sun; S.Q. Tang; G.L. Tong; F. Wang; L.S. Wang; L.Z. Wang; Meng Wang; P. Wang; P.L. Wang; S.M. Wang; T.J. Wang; Y.Y. Wang; C.L. Wei; Y.G. Wu; D.M. Xi; X.M. Xia; P.P. Xie; Y. Xie; Y.H. Xie; G.F. Xu; S.T. Xue; J. Yan; W.G. Yan; C.M. Yang; C.Y. Yang; J. Yang; X.F. Yang; M.H. Ye; S.W. Ye; Y.X. Ye; C.S. Yu; C.X. Yu; G.W. Yu; Y.H. Yu; Z.Q. Yu; C.Z. Yuan; Y. Yuan; B.Y. Zhang; C.C. Zhang; D.H. Zhang; Dehong Zhang; H.L. Zhang; J. Zhang; J.W. Zhang; L.S. Zhang; Q.J. Zhang; S.Q. Zhang; X.Y. Zhang; Y.Y. Zhang; D.X. Zhao; H.W. Zhao; Jiawei Zhao; J.W. Zhao; M. Zhao; W.R. Zhao; Z.G. Zhao; J.P. Zheng; L.S. Zheng; Z.P. Zheng; B.Q. Zhou; G.P. Zhou; H.S. Zhou; L. Zhou; K.J. Zhu; Q.M. Zhu; Y.C. Zhu; Y.S. Zhu; B.A. Zhuang; D.V. Bugg; A.V. Sarantsev; B.S. Zou · 1999

The BES upgradeJ.Z. Bai; H.C. Bao; I. Blum; Z.W. Chai; G.P. Chen; H.F. Chen; J. Chen; J.C. Chen; Y. Chen; Y.B. Chen; Y.Q. Chen; B.S. Cheng; X.M. Chu; X.Z. Cui; H.L. Ding; W.Y. Ding; L.Y. Dong; Y.Y. Du; Z.Z. Du; W. Dunwoodie; J. Fang; W.Z. Fang; C.S. Gao; M.L. Gao; S.Q. Gao; P. Gratton; J.H. Gu; S.D. Gu; W.X. Gu; Y.N. Guo; H.G. Han; S.W. Han; F.A. Harris; Y. Han; J. He; M. He; Y.K. Heng; D.G. Hitlin; G.Y. Hu; H.B. Hu; H.M. Hu; J.L. Hu; Q.H. Hu; T. Hu; X.Q. Hu; G.S. Huang; J.D. Huang; Y.Z. Huang; J.M. Izen; C.H. Jiang; Y.Y. Jiang; Y. Jin; B.D. Jones; X. Ju; Z.J. Ke; M.H. Kelsey; B.K. Kim; D. Kong; Y.F. Lai; P.F. Lang; A. Lankford; C.G. Li; F. Li; H.B. Li; J. Li; P.Q. Li; Q. Li; R.B. Li; W. Li; W.D. Li; W.G. Li; W.H. Li; X.H. Li; X.N. Li; H.M. Liu; J. Liu; J.H. Liu; Jun Liu; Q. Liu; Q.J. Liu; R.G. Liu; Y. Liu; Z.X. Liu; J.S. Lou; X.C. Lou; B. Lowery; H.Y. Lu; J.G. Lu; H. Luo; S.Q. Luo; X.L. Luo; E.C. Ma; J.M. Ma; R. Malchow; M. Mandelkern; H.S. Mao; Z.P. Mao; X.C. Meng; X.H. Mo; L.G. Mu; H.L. Ni; J. Nie; S.L. Olsen; J. Oyang; D. Paluselli; L.J. Pan; J. Panetta; F. Porter; N.D. Qi; X.R. Qi; C.D. Qian; J.F. Qiu; Y.H. Qu; Y.K. Que; G. Rong; M. Schernau; B. Schmid; J. Schultz; Y.Y. Shao; B.W. Shen; D.L. Shen; H. Shen; X.Y. Shen; H.Y. Sheng; H.Z. Shi; X.F. Song; J. Standifird; D. Stoker; F. Sun; H.S. Sun; S.J. Sun; Y. Sun; Y.Z. Sun; Y.P. Tan; S.Q. Tang; W. Toki; G.L. Tong; G.S. Varner; Z.R. Wan; F. Wang; J.F. Wang; L. Wang; L.S. Wang; L.Z. Wang; Meng Wang; P. Wang; P.L. Wang; S.M. Wang; T.J. Wang; Y.Y. Wang; M. Weaver; C.L. Wei; D.M. Xi; X.M. Xia; X. Xiao; P.P. Xie; Q. Xie; Y. Xie; Y.H. Xie; W.J. Xiong; C.C. Xu; Z.Q. Xu; S.T. Xu; J. Yan; W.G. Yan; B. Yang; C.M. Yang; C.S. Yang; C.Y. Yang; D.J. Yang; G.A. Yang; H.X. Yang; J. Yang; X.F. Yang; W. Yang; W.L. Yao; M.H. Ye; C.S. Yu; C.X. Yu; Y.H. Yu; Z.Q. Yu; C.Z. Yuan; Y. Yuan; B.Y. Zhang; C.C. Zhang; D.H. Zhang; Dehong Zhan; H.L. Zhang; J. Zhang; J.W. Zhang; Lin. Zhang; L. Zhang; P. Zhang; Q.J. Zhang; S.Q. Zhang; Y. Zhang; Y.Y. Zhang; D.X. Zh · 2001

A measurement of JΨ decay widthsJ.Z. Bai; G.P. Chen; H.F. Chen; S.J. Chen; S.M. Chen; Y. Chen; Y.B. Chen; Y.Q. Chen; B.S. Cheng; Z.D. Cheng; H.C. Cui; X.Z. Cui; H.L. Ding; W.Y. Ding; Z.Z. Du; X.L. Fan; J. Fang; W.Z. Fang; C.S. Gao; M.L. Gao; S.Q. Gao; W.X. Gao; J.H. Gu; S.D. Gu; W.X. Gu; Y.F. Gu; Y.N. Guo; Y.Y. Guo; S.W. Han; Y. Han; J. He; K.R. He; M. He; G.Y. Hu; H.P. Hu; T. Hu; X.Q. Hu; D.Q. Huang; Y.Z. Huang; C.H. Jiang; S. Jin; Y. Jin; S.H. Kang; Z.J. Ke; Y.F. Lai; H.B. Lan; P.F. Lang; F. Li; J. Li; P.Q. Li; Q. Li; Q.M. Li; R.B. Li; W. Li; W.D. Li; W.G. Li; X.N. Li; S.Z. Lin; H.M. Liu; J.H. Liu; Q. Liu; R.G. Liu; Y. Liu; Z.A. Liu; J.G. Lu; S.Q. Luo; A.M. Ma; D.H. Ma; E.C. Ma; J.M. Ma; H.S. Mao; Z.P. Mao; X.C. Meng; H.L. Ni; J. Nie; L.J. Pan; N.D. Qi; Y.K. Que; G. Rong; Y.Y. Shao; B.W. Shen; D.L. Shen; H. Shen; X.Y. Shen; H.Y. Sheng; H.Z. Shi; X.F. Song; F. Sun; H.S. Sun; Y.P. Tan; S.Q. Tang; G.L. Tong; L.S. Wang; L.Z. Wang; M. Wang; P. Wang; P.L. Wang; S.M. Wang; T.J. Wang; Y.Y. Wang; C.L. Wei; D.M. Xi; X.M. Xia; P.P. Xie; X.X. Xie; Y.G. Xie; D.Z. Xu; R.S. Xu; Z.Q. Xu; S.T. Xue; J. Yan; W.G. Yan; C.M. Yang; C.Y. Yang; W. Yang; M.H. Ye; S.Z. Ye; C.S. Yu; C.X. Yu; Z.Q. Yu; C.Z. Yuan; B.Y. Zhang; C.C. Zhang; D.H. Zhang; H.L. Zhang; J. Zhang; J.W. Zhang; L.S. Zhang; S.Q. Zhang; X.Y. Zhang; Y. Zhang; Y.Y. Zhang; B.A. Zhuang; D.X. Zhao; J.W. Zhao; M. Zhao; P.D. Zhao; W.H. Zhao; W.R. Zhao; J.P. Zheng; L.S. Zheng; Z.P. Zheng; B.Q. Zhou; G.P. Zhou; H.S. Zhou; L. Zhou; X.F. Zhou; Y.H. Zhou; Q.M. Zhu; Y.C. Zhu; Y.S. Zhu · 1995

Structural, defect and optical properties of ZnO films grown under various O2/Ar gas ratiosY. Hu; Y.Q. Chen; Y.C. Wu; M.J. Wang; G.J. Fang; C.Q. He; S.J. Wang · 2009

R value measurements for annihilation at 2.60, 3.07 and 3.65 GeVM. Ablikim; J.Z. Bai; Y. Bai; Y. Ban; X. Cai; H.F. Chen; H.S. Chen; H.X. Chen; J.C. Chen; Jin Chen; X.D. Chen; Y.B. Chen; Y.P. Chu; Y.S. Dai; Z.Y. Deng; S.X. Du; J. Fang; C.D. Fu; C.S. Gao; Y.N. Gao; S.D. Gu; Y.T. Gu; Y.N. Guo; Y.Q. Guo; Z.J. Guo; F.A. Harris; K.L. He; M. He; Y.K. Heng; H.M. Hu; J.H. Hu; T. Hu; G.S. Huang; X.T. Huang; Y.P. Huang; X.B. Ji; X.S. Jiang; J.B. Jiao; D.P. Jin; S. Jin; Y. Jin; G. Li; H.B. Li; H.H. Li; J. Li; L. Li; R.Y. Li; W.D. Li; W.G. Li; X.L. Li; X.N. Li; X.Q. Li; Y.F. Liang; B.J. Liu; C.X. Liu; Fang Liu; Feng Liu; H.M. Liu; J.P. Liu; H.B. Liu; J. Liu; Q. Liu; R.G. Liu; S. Liu; Z.A. Liu; F. Lu; G.R. Lu; J.G. Lu; C.L. Luo; F.C. Ma; H.L. Ma; Q.M. Ma; M.Q.A. Malik; Z.P. Mao; X.H. Mo; J. Nie; S.L. Olsen; R.G. Ping; N.D. Qi; J.F. Qiu; G. Rong; X.D. Ruan; L.Y. Shan; L. Shang; C.P. Shen; X.Y. Shen; H.Y. Sheng; H.S. Sun; S.S. Sun; Y.Z. Sun; Z.J. Sun; X. Tang; J.P. Tian; G.L. Tong; G.S. Varner; X. Wan; L. Wang; L.L. Wang; L.S. Wang; P. Wang; P.L. Wang; Y.F. Wang; Z. Wang; Z.Y. Wang; C.L. Wei; D.H. Wei; Y. Weng; N. Wu; X.M. Xia; G.F. Xu; X.P. Xu; Y. Xu; M.L. Yan; H.X. Yang; M. Yang; Y.X. Yang; M.H. Ye; Y.X. Ye; C.X. Yu; C.Z. Yuan; Y. Yuan; Y. Zeng; B.X. Zhang; B.Y. Zhang; C.C. Zhang; D.H. Zhang; H.Q. Zhang; H.Y. Zhang; J.W. Zhang; J.Y. Zhang; X.Y. Zhang; Y.Y. Zhang; Z.X. Zhang; Z.P. Zhang; D.X. Zhao; J.W. Zhao; M.G. Zhao; P.P. Zhao; Z.G. Zhao; B. Zheng; H.Q. Zheng; J.P. Zheng; Z.P. Zheng; B. Zhong; L. Zhou; K.J. Zhu; Q.M. Zhu; X.W. Zhu; Y.S. Zhu; Z.A. Zhu; Z.L. Zhu; B.A. Zhuang; B.S. Zou · 2009