Epitaxial behavior and interface structures of BSTO thin films
Chen, C. L.; Zhang, Z.; Feng, H.; Luo, G. P.; Chen, S. Y.; Heilman, A.; Chu, W. K.; Chu, C. W.; Gao, J.; Rafferty, B.; Pennycook, S. J.; Liou, Y.; Miranda, F. A.; Keuls, F. Van
- 期刊名称Integrated Ferroelectrics
- 作者Chen, C. L.; Zhang, Z.; Feng, H.; Luo, G. P.; Chen, S. Y.; Heilman, A.; Chu, W. K.; Chu, C. W.; Gao, J.; Rafferty, B.; Pennycook, S. J.; Liou, Y.; Miranda, F. A.; Keuls, F. Van
- 卷第28卷
- 印刷ISSN1058-4587
- 电子ISSN1607-8489
- 文件大小612.01KB
- 发表时间2000-03
- DOI10.1080/10584580008222235
- 页码237-246