Connecting disorder and magnetic properties in CoFe thin films
Freeland, J. W.; Bussmann, K.; Idzerda, Y. U.
- 期刊名称Applied Physics Letters
- 作者Freeland, J. W.; Bussmann, K.; Idzerda, Y. U.
- 卷第76卷
- 期第18期
- 印刷ISSN0003-6951
- 文件大小300.29KB
- 发表时间2000
- DOI10.1063/1.126422