Patterning performance of EB-X3 x-ray mask writer
S. Ohki; T. Watanabe; Y. Takeda; T. Morosawa; K. Saito; T. Kunioka; J. Kato; A. Shimizu; T. Matsuda; S. Tsuboi; H. Aoyama; H. Watanabe; Y. Nakayama
- 作者S. Ohki; T. Watanabe; Y. Takeda; T. Morosawa; K. Saito; T. Kunioka; J. Kato; A. Shimizu; T. Matsuda; S. Tsuboi; H. Aoyama; H. Watanabe; Y. Nakayama
- 文件大小1166.12KB
- 发表时间2000
- DOI10.1116/1.1319708