Integration of high voltage field emission display followed by macro- and nanostructural analysis on microtip
J. M. Kim; H. W. Lee; Y. S. Choi; N. S. Lee; J. E. Jung; J. W. Kim; W. B. Choi; Y. J. Park; J. H. Choi; Y. W. Jin; W. K. Yi; N. S. Park; G. S. Park; J. K. Chee
- 作者J. M. Kim; H. W. Lee; Y. S. Choi; N. S. Lee; J. E. Jung; J. W. Kim; W. B. Choi; Y. J. Park; J. H. Choi; Y. W. Jin; W. K. Yi; N. S. Park; G. S. Park; J. K. Chee
- 文件大小912.00KB
- 发表时间2000
- DOI10.1116/1.591292