De Haas–Van Alphen effect study of CeCo2 under pressure
M. Takashita; H. Aoki; T. Terashima; C. Terakura; T. Matsumoto; T. Nishigaki; H. Sugawara; Y. Aoki; H. Sato
- 作者M. Takashita; H. Aoki; T. Terashima; C. Terakura; T. Matsumoto; T. Nishigaki; H. Sugawara; Y. Aoki; H. Sato
- 印刷ISSN0921-4526
- 文件大小96.49KB
- 发表时间2000
- DOI10.1016/s0921-4526(99)00883-2
- 页码738-739