发现好书期刊,享受阅读乐趣

海量图书期刊资源,随时随地畅享阅读乐趣

High frequency characterization of gate resistance in RF MOSFETs

High frequency characterization of gate resistance in RF MOSFETs

Yuhua Cheng; Matloubian, M.
  • 作者Yuhua Cheng; Matloubian, M.
  • 卷第22卷
  • 期第2期
  • 印刷ISSN0741-3106
  • 电子ISSN1558-0563
  • 文件大小64.03KB
  • 发表时间2001
  • DOI10.1109/55.902844
  • 页码98-100
← 返回【学霸图书馆】主页