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Reliability of Flash Nonvolatile Memories

Reliability of Flash Nonvolatile Memories

Mielke, Neal; Chen, Jian
  • 期刊名称International Journal of High Speed Electronics and Systems
  • 作者Mielke, Neal; Chen, Jian
  • 卷第11卷
  • 期第3期
  • 印刷ISSN0129-1564
  • 电子ISSN1793-6438
  • 文件大小2968.75KB
  • 发表时间2001-09
  • DOI10.1142/S012915640100099X
  • 页码719-750
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