Models of void electromigration
CUMMINGS, L. J.; RICHARDSON, G.; BEN AMAR, M.
- 期刊名称European Journal of Applied Mathematics
- 作者CUMMINGS, L. J.; RICHARDSON, G.; BEN AMAR, M.
- 卷第12卷
- 期第2期
- 印刷ISSN0956-7925
- 电子ISSN1469-4425
- 文件大小1277.32KB
- 发表时间2001-4
- DOI10.1017/S0956792501004326