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Cu Contamination Effect in Oxynitride Gate Dielectrics

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Lin, Y. H.; Pan, F. M.; Liao, Y. C.; Chen, Y. C.; Hsieh, I. J.; Chin, Albert
  • 期刊名称Journal of The Electrochemical Society
  • 作者Lin, Y. H.; Pan, F. M.; Liao, Y. C.; Chen, Y. C.; Hsieh, I. J.; Chin, Albert
  • 卷第148卷
  • 期第11期
  • 印刷ISSN0013-4651
  • 文件大小91.85KB
  • 发表时间2001
  • DOI10.1149/1.1407834
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