Profiling of collimated swift ion microbeam using 16 M bit DRAM

• 作者Hidenobu Mori; Toshio Hirao; Shinobu Onoda; Hisayoshi Itoh; Sohei Okada; Tsuyoshi Okamoto; Yoshiharu Koizumi
• 卷第60卷
• 印刷ISSN0969-806X
• 文件大小136.08KB
• 发表时间2001
• DOI10.1016/s0969-806x(00)00361-3
• 页码273-276