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High-resolution electron microscopy and electron tomography: resolution versus precision

High-resolution electron microscopy and electron tomography: resolution versus precision

S. Van Aert; A.J. den Dekker; D. Van Dyck; A. van den Bos

作者S. Van Aert; A.J. den Dekker; D. Van Dyck; A. van den Bos
卷第138卷
印刷ISSN1047-8477
电子ISSN1095-8657
文件大小217.92KB
发表时间2002
DOI10.1016/s1047-8477(02)00016-3

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