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Profile Changes and Self-sputtering during Low Energy Ion Implantation.

Profile Changes and Self-sputtering during Low Energy Ion Implantation.

Vandervorst, W.; Janssens, T.; Brijs, B.; Lindsay, R.; Collart, E. J. H.; Kirkwood, David A.; Mathot, G.; Terwagne, G.
  • 期刊名称MRS Proceedings
  • 作者Vandervorst, W.; Janssens, T.; Brijs, B.; Lindsay, R.; Collart, E. J. H.; Kirkwood, David A.; Mathot, G.; Terwagne, G.
  • 卷第717卷
  • 电子ISSN1946-4274
  • 文件大小436.53KB
  • 发表时间2002-1
  • DOI10.1557/proc-717-c7.2
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