发现好书期刊，享受阅读乐趣

海量图书期刊资源，随时随地畅享阅读乐趣

Atomic force microscopy study of the morphological shape of thin film buckling

Atomic force microscopy study of the morphological shape of thin film buckling

C. Coupeau

作者C. Coupeau
卷第406卷
印刷ISSN0040-6090
文件大小353.29KB
发表时间2002
DOI10.1016/s0040-6090(01)01772-2
页码190-194

← 返回【学霸图书馆】主页