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On Selecting Testable Paths in Scan Designs

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Yun Shao; Sudhakar M. Reddy; Irith Pomeranz; Seiji Kajihara
  • 作者Yun Shao; Sudhakar M. Reddy; Irith Pomeranz; Seiji Kajihara
  • 卷第19卷
  • 期第4期
  • 印刷ISSN0923-8174
  • 电子ISSN1573-0727
  • 文件大小94.30KB
  • 发表时间2003-08
  • DOI10.1023/a:1024648227669
  • 页码447-456
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