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Bias-dependence of FET intrinsic noise sources, determined with a quasi-2D model

Bias-dependence of FET intrinsic noise sources, determined with a quasi-2D model

A. Lázaro; M. C. Maya; L. Pradell

作者A. Lázaro; M. C. Maya; L. Pradell
卷第39卷
期第4期
印刷ISSN0895-2477
电子ISSN1098-2760
文件大小96.86KB
发表时间2003
DOI10.1002/mop.11202
页码317-319

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